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热传导检查设备TSI2可以通过热将空隙、裂纹等产品或材料的缺隙可视化。
热传导检查设备TSI2优势：
1. 具备激光加热功能；
2. 宏观摄影光学系（分辨率约20μｍ）；
3. 高性能红外照相机（7.5μm～13.5μm）；
4. 独立的减噪技术；
5. 操作简单，打开盖子将样品放置到指定位置就可以进行测量；
热传导检查设备TSI2可以对树脂、玻璃、陶瓷、金属等的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性等进行测量分析；
主要规格 | ||
TSI-2 | ||
基本性能 | 测量对象 | 样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性 |
输出数据 | 频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据 | |
解析模式 | 点・范围解析、位相解析 | |
其它配件 | 温度调制加热器、控制解析软件、PC | |
测量环境 | 温度 | RT∼250[℃] |
测量频率 | 0.1∼10[Hz] | |
红外照相机 | 元件数量 | 336×256 |
元件的种类 | VOx Microbolometer | |
像素 | 17[μm] | |
观察波长范围 | 7.5∼13.5[μm] | |
帧延迟 | 30[Hz] | |
分辨率 | About 30[μm] | |
半导体激光 （连续振荡） | 波长 | 808[nm] |
输出功率 | 5[W] | |
正弦波调制 | 0.1∼30[Hz] | |
平台可动范围 | 水平（XY轴） 方向 | ±15[mm] |
垂直（Z轴） 方向 | +50[mm] | |
电源 | AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz] | |
使用环境 | 温度 | 20～30(℃) |
湿度 | 20～80(%) | |
保管环境 | 温度 | 0～50(℃) |
湿度 | 20～80(%) | |
设备本体 | 外形尺寸 | W552 × D602 × H657[mm] |
重量 | 76.5[kg] | |
激光安全标准 | CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007 | |
